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    3360 VLSI測試系統

    更新时间:2024-11-10

    简要描述:

    3360 VLSI測試系統
    主要特色:
    •50 MHz 測試頻率
    •608 個 I/O 通道
    •8M (標準) /16M (選購) Pattern 記憶體
    •彈性化硬體結構 (互換式 I/O, UVI, ADDA and LCD)
    •平行測試可達 32 devices
    •Real Parallel Trim/Match 功能

      免费咨询:0755-23217122

      发邮件给我们:xz01@junhuiyiqi.vip

    3360 VLSI測試系統

    主要特色:

    • 50 MHz 測試頻率
    • 608 個 I/O 通道
    • 8M (標準) /16M (選購) Pattern 記憶體
    • 彈性化硬體結構 (互換式 I/O, UVI, ADDA and LCD)
    • 平行測試可達 32 devices
    • Real Parallel Trim/Match 功能
    • 直接裝設 SC312, TS670 針測卡
    • 測試程式/pattern 轉換器 (V7, TRI6020, V50, SC312, J750, ITS9K,TS670, ND1)
    • Analog PE card 選配 (16 ~24 bits)
    • SCAN test 選配 (512M)
    • ALPG test 選配供記憶體用
    • STDF 工具支援
    • 人性化 Windows XP 操作環境
    • CRAFT C/C++ 程式語言
    • 即時pattern編輯器,含Fail pin/address顯示
    • 多樣化的測試解析工具 : Shmoo plot, Waveform display,Wafer Map, Pin Margin, Scope tool,Histogram tool and etc.

     

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