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    3380-P VLSI測試系統

    更新时间：2024-11-10

    简要描述：

    3380-P VLSI測試系統

    主要特色：
    •85 MHz 測試頻率
    •512 logic I/O pins （ Z高可至 576 pins）
    •平行測試可達 512 devices
    •16/32 M Pattern 記憶體

      免费咨询：0755-23217122

      发邮件给我们：xz01@junhuiyiqi.vip

    3380-P VLSI測試系統

     

    主要特色：

    • 85 MHz 測試頻率
    • 512 logic I/O pins ( zui高可至 576 pins)
    • 平行測試可達 512 devices
    • 16/32 M Pattern 記憶體
    • 多樣彈性 VI 電源
    • 彈性化硬體結構 (可互換式 I/O, VI, ADDA)
    • Real parallel Trim/Match 功能
    • 時序頻率測試單位 (TFMU)
    • AD/DA 功能卡 選配 (16 ~24 bits)
    • SCAN 測試功能 選配 (1G/Board)
    • ALPG 測試 選配供記憶體IC用
    • STDF 工具支援
    • 測試程式/pattern 轉換器 (J750, D10, V50, E320, SC312, V7, TRI-6020,ITS9K)
    • 人性化 Window 7操作環境
    • CRAFT C/C++ 程式語言
    • 程式語言同3360P & 3360

     

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